Российские учёные разработали сверхточный спектральный оптический метод анализа материалов. Он расширяет возможности атомно-силовых микроскопов и позволяет изучать образцы на масштабе нескольких нанометров.С помощью нового метода в ИФП СО РАН изучили структуру полупроводников для микроэлектроники и фотоники и приступили к работе над миниатюрными лазерами.В перспективе эта технология поможет проектировать на атомарном уровне материалы с заданными свойствами, необходимые для создания сверхминиатюрных...
